Sonda a porta singola e doppia da CC a 110 GHz, sonda manuale da CC a 40 GHz

La sonda a radiofrequenza è uno strumento fondamentale per il test di segnali ad alta frequenza, ampiamente utilizzato nella misurazione e nell'analisi di circuiti elettronici, dispositivi a semiconduttore e sistemi di comunicazione.

Caratteristiche:
1. Misurazione ad alta precisione: le sonde RF possono misurare con precisione i parametri dei segnali RF, come frequenza, ampiezza, fase, ecc. Il loro design speciale e il processo di produzione garantiscono l'accuratezza e l'affidabilità dei dati di misurazione.
2. Risposta rapida: la velocità di risposta delle sonde RF è molto elevata e la misurazione del segnale può essere completata in tempi brevissimi, soddisfacendo le esigenze di test rapidi.
3. Buona stabilità: durante l'utilizzo prolungato, le prestazioni della sonda RF rimangono stabili e non sono facilmente influenzate da fattori ambientali o altri fattori esterni.
4. Capacità di trasmissione ad alta frequenza: le sonde RF sono in grado di elaborare segnali fino a decine di GHz o anche a frequenze superiori, risultando quindi adatte alle esigenze di test dei moderni circuiti ad alta frequenza e delle apparecchiature di comunicazione.

Applicazione:
1. Test dei sistemi di comunicazione: Applicabile a circuiti integrati di comunicazione, radar e RF. Utilizzato per valutare e ottimizzare lo spettro radio, la potenza RF e le prestazioni del modem.
2. Test del sistema radar: Misurare la sensibilità, la risposta in frequenza e la capacità anti-interferenza del ricevitore radar.
3. Test di circuiti integrati RF: Analisi e ottimizzazione delle caratteristiche di frequenza, del consumo energetico e della gestione termica dei circuiti integrati.
4. Test dell'antenna: Valutare e ottimizzare le prestazioni dell'antenna.
5. Sistema di guerra elettronica: utilizzato per testare e analizzare le prestazioni RF delle apparecchiature di guerra elettronica.
6. Prestazioni dei circuiti integrati a microonde (MMIC) e di altri dispositivi, e capacità di misurare le caratteristiche reali dei componenti RF a livello di chip.